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xrf熒光光譜儀
xrf熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司新開發(fā)的具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。以其的分析速度，媲美實驗室級...
手持x射線熒光光譜儀
SPECTRO xSORT手持x射線熒光光譜儀無需樣品前處理、進行非破壞性分析；短時間現(xiàn)場快速直接分析測定，可直接對土壤、泥土、泥漿、煤質(zhì)、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、礦渣、礦粉等未知樣品進行‘解剖’分...
進口X射線熒光光譜儀
SPECTRO xSORT進口X射線熒光光譜儀無需樣品前處理、進行非破壞性分析；短時間現(xiàn)場快速直接分析測定，可直接對土壤、泥土、泥漿、煤質(zhì)、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、礦渣、礦粉等未知樣品進行‘解剖’分...
手持式合金光譜儀
在大多數(shù)應(yīng)用場合，如金屬牌號鑒別，SPECTRO xSORT手持式X射線熒光光譜儀可以在區(qū)區(qū)兩秒的分析時間內(nèi)給出金屬牌號以及實驗室級的材料化學組成分析結(jié)果。而對于復雜基體分析如環(huán)境監(jiān)測分析，xSORT...
手持式RoHS光譜儀
SPECTRO xSORT手持式RoHS光譜儀與同類產(chǎn)品相比性能，在幾秒鐘時間內(nèi)可以提供實驗室級的分析結(jié)果。經(jīng)過優(yōu)化的SPECTRO xSORT光譜儀現(xiàn)已能滿足現(xiàn)場連續(xù)高強度測量作業(yè)需要。
輝光放電光譜儀
輝光放電光譜儀（GDA）于1968年*出現(xiàn)，用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與傳統(tǒng)的激發(fā)技術(shù)相比，輝光放電技術(shù)的突出優(yōu)點是能夠表層分析樣品的表層...
鎢燈絲掃描電鏡
FlexSEM1000是日立公司推出的一款機型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲掃描電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散射探頭，具有的低真空成像能量，并且采用的...
臺式電子掃描電鏡
日立TM4000臺式電子掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探...

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